Prensip
Baz kristalografi: Elektwon Retounen - Diffraction Diffraction (EBSD) teknik baze sou prensip difraksyon Bragg nan avyon kristal. Atòm yo nan yon kristal yo regilyèman ranje. Lè yon gwo bout bwa elèktron irradie sifas kristal la, fenomèn diffraction ap rive lè Lwa Bragg la (, kote se espas entè-planè a, se ang diffraction, se lòd diffraction, e se longèdonn gwo bout bwa elèktron) satisfè. Pou materyèl polikristalin tankou asye, grenn diferan gen diferan oryantasyon kristalografik.
Oryantasyon Imaging: Sistèm EBSD ka detèmine oryantasyon kristalografi chak grenn pa resevwa elektwon difrakte sa yo. Nan yon Mikwoskòp Elektwon Scanning (SEM), gwo bout bwa elektwon an analize pwen - pa - pwen sou sifas echantiyon an epi jwenn modèl diffraction nan chak pwen optik. Modèl diffraction sa yo genyen enfòmasyon sou oryantasyon grenn jaden an epi yo ka trete pa lojisyèl pou montre oryantasyon grenn jaden an nan fòm yon imaj, ki rele Oryantasyon Imaging Map (OIM).
Baz pou Mezi Gwosè Grenn: Dapre kat jeyografik oryantasyon an, yo ka detèmine fwontyè grenn yo lè yo distenge grenn ak oryantasyon diferan. Piske oryantasyon nan chak grenn se fondamantalman menm, epi gen yon diferans oryantasyon ant grenn adjasan yo, yo ka idantifye limit grenn yo lè yo fikse yon papòt diferans oryantasyon apwopriye. Yon fwa yo detèmine limit grenn yo, yo ka kalkile gwosè grenn yo. Pou egzanp, paramèt jeyometrik yo tankou dyamèt sikilè ekivalan grenn jaden an ka mezire pou karakterize gwosè grenn lan.

 

 

Anviwònman Paramèt Enstriman an
Anviwònman vòltaj akselerasyon: Nan yon mikwoskòp Elektwon Scanning, yo mete yon vòltaj akselerasyon apwopriye dapre pwopriyete yo ak egzijans analiz echantiyon asye a. Anjeneral, pou asye, vòltaj akselerasyon an ka mete ant 15 - 30kV. Yon vòltaj akselerasyon apwopriye ka asire ke gwo bout bwa a elèktron gen ase enèji pou antre nan sifas echantiyon an epi pwodui modèl diffraction klè.
Ajisteman Distans k ap travay: Distans k ap travay la refere a distans ki genyen ant zam elèktron ak sifas echantiyon an epi li anjeneral ajiste ant 10 - 20mm. Yon distans k ap travay apwopriye ka pèmèt gwo bout bwa elèktron yo byen konsantre epi li fezab pou resevwa bon siyal diffraction.
Seleksyon etap eskanè: Etap eskanè a se distans ki genyen ant de pwen optik adjasan lè gwo bout bwa elèktron analize sifas echantiyon an. Pou echantiyon asye ki gen pi gwo gwosè grenn, etap eskanè a ka mete yon ti kras pi gwo, tankou {{0}} μm; pou echantiyon ki gen pi piti gwosè grenn, etap eskanè a ta dwe mete pi piti, pou egzanp, 0.1 - 1μm, pou asire idantifikasyon egzat chak grenn.
Akizisyon Done
Egzanp Enstalasyon: Echantiyon an prepare enstale sou etap echantiyon an nan mikwoskòp Elektwon Scanning, asire echantiyon an byen fiks epi li gen bon konduktiviti elektrik.
Kòmanse eskanè: Pwogram optik la kòmanse, ak gwo bout bwa elèktron analize pwen - pa - pwen sou sifas echantiyon an selon etap eskanè seri a. Nan chak pwen eskanè, detektè EBSD la resevwa elektwon difrakte yo, konvèti yo an siyal elektrik, epi anplifye ak nimerik yo pou anrejistre enfòmasyon sou modèl diffraction chak pwen optik.

 

 

 

 

 

Spesifikasyon nou bay:

Epesè	3-200mm
Lajè	1500-4000mm
Longè	5000-15000mm

 

 

 

Pwosesis done ak analiz
Modèl Indexing: Done modèl diffraction kolekte yo dwe premye modèl - endis, se sa ki, lè yo konpare ak modèl diffraction estanda nan baz done kristalografik li te ye pou detèmine oryantasyon kristalografi ki koresponn ak chak pwen optik. Pwosesis sa a konplete atravè lojisyèl analiz EBSD dedye. Lojisyèl la pral matche ak oryantasyon kristalografik ki gen plis chans dapre pozisyon ak entansite tach diffraction yo.
Rekonstriksyon Grenn: Baze sou enfòmasyon oryantasyon pwen eskanè yo ak papòt diferans oryantasyon an (anjeneral, pou asye, papòt diferans oryantasyon an fikse ant 10 - 15 degre), yo itilize lojisyèl an pou idantifye fwontyè grenn jaden yo epi divize. pwen yo optik ak oryantasyon yo menm oswa menm jan an nan yon sèl grenn, konsa rekonstwi fòm nan grenn nan.
Kalkil gwosè grenn: Apre yo fin rekonstwi grenn yo, zouti ki nan lojisyèl an ka itilize pou kalkile gwosè grenn yo. Pou egzanp, paramèt tankou zòn ak perimèt chak grenn yo ka kalkile, ak Lè sa a, dyamèt sikilè ekivalan a ak lòt endikatè ki karakterize gwosè grenn yo ka kalkile. An menm tan an, analiz estatistik gwosè grenn jaden an ka fèt tou, tankou kalkile gwosè mwayèn grenn ak distribisyon gwosè grenn.

 

 

 

 

 

 

Nou fyè nan kapasite nou pou bay solisyon koutim pou bezwen inik kliyan nou yo.
Nou analize ak konpare pwodwi anvan yo ak sitiyasyon teknik aktyèl la nan BV EH36 Steel Plate nou an, epi devlope nouvo espesifikasyon teknik ak pwosesis.
Kliyan nou yo fè konfyans nou pou delivre bon jan kalite pwodwi asye woule frèt alè ak sou bidjè.
Nou estrikteman aplike sèvis apre-lavant cho ak reflechi, konfòme yo ak devlopman nan bon etik pwofesyonèl.
Nou ofri yon pakèt pwodwi asye woule frèt pou satisfè bezwen kliyan divès kalite.
Nou respekte filozofi biznis ki santre sou kliyan ak mak-oryante, epi kontinye bay kliyan pwodwi ak sèvis serye ak ekselan.
Faktori nou an pran angajman pou kenbe pi wo estanda sekirite ak bon jan kalite.
Tout anplwaye nan konpayi nou an ak tout depatman yo travay ansanm pou konbine jesyon biznis, teknoloji pwofesyonèl, metòd estatistik quantitative ak edikasyon ideolojik.
Pwodwi asye woule frèt nou yo li te ye pou durability yo ak fyab.
Repoze sou kondisyon siperyè yo ak avantaj fò nan pwodiksyon an mas, nou kapab satisfè bezwen yo diferan nan kliyan nou yo.

Baj popilè: bv eh36 asye plak, Lachin bv eh36 asye plak founisè, faktori